NANO SEM 320 — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом

Низкое ускоряющее напряжение

При низком ускоряющем напряжении образец углеродного материала имеет меньшую глубину проникновения, в связи с чем можно получить реальную форму поверхности образца с лучшей детализацией

Низкий вакуум

Материал фильтрующей волоконной трубки имеет плохую электропроводимость и заряжается в условиях высокого вакуума. При низком вакууме можно осуществлять прямое наблюдение непроводящих электрический ток образцов.

Большое поле зрения

Биологические образцы могут быть исследованы с большим полем зрения — например, можно легко получить общую форму тела божьей коровки, а также в деталях изучить структуру головы.

Навигация и защита от столкновений

Простая и удобная навигация — просто нажмите на то, что хотите посмотреть. Камера высокого разрешения уже в стандартной комплектации способна быстро находить образцы и снимать их на предметном столике с высокой четкостью.

Быстрая навигация / управление жестами

Быстрая навигация осуществляется с помощью прокрутки колесиком мыши, выбора двойным клином или рамкой области, которую необходимо увеличить.

Например, выбор рамки и увеличение: при навигации с малым увеличением вы можете получить большое поле трения обратна и быстро выбрать интересующую вас область, чтобы повысить эффективность работы.

Технология защиты от столкновений

Разнообразные способы зашиты от столкновении:

1. Для предотвращения столкновений вручную введите высоту обратна, чтобы точно контролировать расстояние между образном и полюсным наконечником объектива.
2.  На основе технологии распознавания изображений и динамического захвата осуществляется наблюдение за движением объектов, находящихся в камере, в режиме реального времени
3. Аппаратное обеспечение зашиты от столкновений может остановить работу микроскопа в момент прикосновения, чтобы исключить повреждение полюсного наконечника (опция).

Особые функции

Интеллектуальная вспомогательная дисперсия

Визуально отображайте степень дисперсии всею поля зрения и быстро улучшайте качество изображения, просто щелкая мышью в нужном месте.

Автофокусировка

Фокусировка одним нажатием

Автоматическое рассеивание

Рассеивание в один клик для повышения эффективности работы

Автоматическая настройка контраста и яркости

Автоматическая настройка контраста и яркости одним нажатием клавиши для правильного отображения шкалы серого цвета

Одновременное отображения нескольких типов данных

Программное обеспечение поддерживает смешанную визуализацию ВЭ и ООЭ в один клик. Таким образом, можно одновременно наблюдать морфологию образца и получать информацию о его составе.

Быстрое вращение изображения

Переместите линию, и изображение мгновенно "выберет" правильный угол.

Масштабируемость

Сканирующий электронный микроскоп используется не только для наблюдения топографии поверхности, но и для элементного анализа поверхности образца.

Предусмотрено множество портов. В дополнение к традиционному детектору вторичных электронов (ДВЭ). детектору обратно-отраженных электронов (ДООЭ) и рентгеновскому энергодисперсионному спектрометру (ЭДС). Прибор поддерживает множество интерфейсов, таких как дифракция отраженных электронов (ДОЭ) и катодолюминесцентный спектрометр (КЛА). Прочие детекторы также могут входить в конфигурацию.

Электронный детектор обратно-отраженных электронов

Сравнение формировании и (обряжении с помощью вторичных электронов и обратно-отраженных электронов. В режиме электронного изображения в обратно-отраженных электронах эффект заряда значительно меньше, что позволяет получить больше информации о составе поверхности образца.

Функции детектора обратно-отраженных электронов: деление изображения на четыре сегмента и многоканальное формирование изображения

Деток отличается оригинальной конструкцией и высокой чувствительностью, имеет функцию деления изображения на 4 сегмента без наклона образца и может получать теневые изображения и изображения в композиционном контрасте в разных направлениях.

Дифракции отраженных электронов (ДОЭ)

Электронный микроскоп с вольфрамовым катодом обладает большим током пучка, что полностью отвечает требованиям высокоразрешающего ДОЭ-анализа и применяется для исследования текстуры или преимущественных кристаллографических ориентаций моно- или полиикристалличсского материала. ДОЭ может использоваться для индексирования и определения семи кристаллических систем, картирования кристаллических ориентаций, исследования дефектов, определения и разделения фаз, изучения межзерненных границ и морфологии, картирования микродеформаций.