Вы здесь

Растровые электронные микроскопы (РЭМ)

  • Разрешение: менее 7 нм при 20 кэВ
  • Получение изображений при низком ускоряющем напряжении (от 1 кВ)
  • Максимальное увеличение 100000X
  • Увеличение: x20 - x80,000
  • Разрешение: 7.0 нм (20КВ, SE изображение)

2013 г. Разработан высококлассный суперконический СЭМ (AIS2500C)

Изображения, полученные при использовании микроскопа AIS2500C

Увеличение: x15 – x300,000

Разрешение: 3.0 нм (30КВ, SE изображение)

Разрешение: 3,5 нм при 30 кэВ; 5 нм в режиме обратно рассеянных электронов

 

  • Доступное разрешение 7 нм, 5 нм при 30 кэВ
  • Увеличение 150000-кратное (макс.)

Наш менеджер готов ознакомить вас с ВЫГОДНОЙ ЦЕНОЙ

Запрос цены