Вы здесь

AFM4500 — Атомно силовой микроскоп

Атомно-силовой микроскоп AFM4500 (АСМ, англ. AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с атомарным разрешением.

Головка лазерного детектирования и столик сканирования образца интегрированы, структура стабильна, обеспечен высокий уровень защиты от помех. Устройство точного позиционирования зонда, регулировка выравнивания лазерного пучка эффективна. Образец с одноосным приводом автоматически приближается к датчику вертикально, так что кончик иглы зонда перпендикулярен сканируемому образцу.

Интеллектуальный метод подачи иглы зонда для автоматического обнаружения пьезоэлектрической керамики под давлением с электроприводом защищает датчик и образец. Можно свободно выбирать высокоточные пьезоэлектрические керамические сканеры широкого спектра действия. Автоматическое оптическое позиционирование объектива с большим увеличением, отсутствие необходимости регулировки фокуса, наблюдение в реальном времени и позиционирование области сканирования образца зонда.

Противоударный метод пружинной подвески, простой и практичный, хороший противоударный эффект. Металлический экранированный звуконепроницаемый бокс, встроенный высокоточный датчик температуры и влажности, мониторинг рабочей среды в режиме реального времени. Встроенный пользовательский редактор нелинейной коррекции сканера, нанометровая характеристика и точность измерения 98%

Углеродные нанотрубки / диапазон 2 мкм×2 мкм
Углеродные нанотрубки / диапазон 2 мкм×2 мкм
Серебряные нановолокна / диапазон 6 мкм × 6 мкм
Серебряные нановолокна / диапазон 6 мкм × 6 мкм
Пленка ITO / диапазон 5 мкм × 5 мкм
Пленка ITO / диапазон 5 мкм × 5 мкм
Атомные шаги / диапазон NaCl 2 мкм × 2 мкм
Атомные шаги / диапазон NaCl 2 мкм × 2 мкм
Золотое наносито / диапазон 10 мкм × 10 мкм
Золотое наносито / диапазон 10 мкм × 10 мкм
Полупроводниковая пленка / 10 мкм × 10 мкм
Полупроводниковая пленка / 10 мкм × 10 мкм

Технические характеристики

Рабочий режим: Контактный режим, Режим постукивания, Режим трения, Фазовый режим Магнитный режим, Электростатический режим

Кривая текущего спектра: Кривая RMS-Z Кривая силы F-Z

XY диапазон сканирования: 20х20мкм (50х50мкм)

XY разрешение сканирования: 0,2нм

Z-диапазон сканирования: 2,5мкм (5мкм)

Скорость сканирования: 0,6 - 30 Гц

Угол сканирования: 0-360 °

Размер образца: диаметр образца <90 мм, высота <20 мм

Перемещение предметного столика по осям XY: 15х15мм (25х25мкм)

Амортизирующий дизайн: Металлическая защитная коробка с пружинной подвеской

Оптическая система: 

  • Окуляр 10x, LWD APO 5x10x20x50x
  • 5,0-мегапиксельная цифровая камера
  • 10-дюймовый ЖК-монитор, с измерением
  • Коаксиальная светодиодная подсветка Kohler, грубая и точная фокусировка

Операционная система: WinXP/7/8/10, USB2.0/3.0

Наш менеджер готов ознакомить вас с ВЫГОДНОЙ ЦЕНОЙ

Запрос цены