Вы здесь

Атомно силовые микроскопы

Атомно силовой микроскоп
  • Контактный режим, бесконтактный режим, сканирование
  • Диапазон XY: 50x50 мкм, Z: 5 мкм
  • Разрешение сканирования XY: 0,2 нм, Z: 0,05 нм
  • Диаметр образца <90 мм, высота <20 мм
  • Предметный столик: подвижный 25x25 мм
  • Оптический объектив: 10-кратное разрешение 2,5 мкм
  • Скорость сканирования: 0,6 - 30 Гц, угол сканирования 0-360 °
  • Демпфирование подвески

Наш менеджер готов ознакомить вас с ВЫГОДНОЙ ЦЕНОЙ

Запрос цены