|
Параметр сравнения |
Microtrac S3500 |
Analysette 22 MicroTec |
Комментарий |
|
Диагностируемый размер частиц |
0.02 - 2816 мкм |
0.08 - 2000 мкм |
S3500 позволяет захватить почти весь «нанодиапазон» размеров, а в области низкодисперсных (крупных) частиц регистрируемый диапазон шире почти на 30%, что может рассматриваться, как конкурентное преимущество. |
|
Количество фоточувствительных сегментов в детекторных блоках |
151 |
57 |
Количество фоточувствительных сегментов в детекторных блоках – параметр, определяющий угловое разрешение (и, следовательно, разрешение по размерам частиц дисперсной фазы). Также влияет на воспроизводимость зависимости интенсивности рассеяния от угла рассеяния, и на интегральную интенсивность рассеянного света. При одинаковой экспозиции повышение количества фотоэлементов позволяет существенно выиграть по всем этим критериям. |
|
Количество источников света (лазеров) |
3 |
2 |
Использование 3-х источников света позволяет реализовать принципиально иную, оптимизированную, оптическую схему для формирования картины рассеяния (см. ниже). Также увеличение количества источников света позволяет повысить интенсивность рассеяния в области малых углов рассеяния (а значит, получать более надежные и воспроизводимые результаты для крупных частиц). |
|
Оптическая система |
Неподвижная геометрия - в ней нет перемещаемых частей и изнашиваемых деталей |
Предусмотрено изменение измерительной базы - расстояния от образца до детектора |
У анализатора S3500 вся оптическая система неподвижна - в ней нет перемещаемых частей, а широкий диагностируемый диапазон углов рассеяния обеспечивается за счет оригинальной геометрии расположения источников и детекторов - ознакомьтесь с буклетами на сайте российского представительства Microtrac (http://microtrac-rus.ru/catalog/analizatory-razmerov-chastic/microtrac-s3500). У Analysette 22 MicroTec предусмотрено изменение измерительной базы - расстояния от образца до детектора, что требует дополнительной конструкционной нагрузки в виде высокоточной системы позиционирования и перемещения, а исследовательская практика показывает, что именно эти элементы изнашиваются и требуют замены первыми.
|
|
Конструкционная универсальность |
Возможность интегрирования дополнительных модулей |
Не установлено |
К S3500 можно в последствии пристыковать комплементарные модули из линейки Microtrac, например модуль визуализации частиц в потоке (PartAn SI,http://microtrac-rus.ru/catalog/analizatory-razmerov-chastic-analizatory-razmera-i-formy-chastic/partan-si).
Fritsch, насколько нам известно, подобного функционала не предлагает.
|
