Микроскопия

Компактный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом
  • Разрешение: 5нм@З0кВ (BSE),
  • Увеличение: 20x – 150 000X
  • Размер образца: 80 мм,
  • Ускоряющее напряжение: 1-30кВ
  • Стандартный X/Y/R 3-осевой столик образца, опционально: 5-осевой рабочий столик образца X/Y/Z/R/T
  • 2-ступенчатая электромагнитная конденсорная линза, 1-ступенчатый электромагнитный объектив
  • Вакуумная система: 1 Турбомолекулярный насос + 1 Форвакуумный насос
  • Авто старт, Авто фокус, Авто яркость/контраст
Бюджетный настольный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом.
  • Разрешение: 15нм@З0кВ (SE),
  • Увеличение: 20x – 60 000X
  • Размер образца: 80 мм,
  • Ускоряющее напряжение: 1-30кВ
  • 20x~60000x Разрешение 15нм с детектором вторичных электронов SE, опционально BSE, EDS
  • Стандартный X/Y/R 3-осевой столик образца, опционально: 5-осевой рабочий столик образца X/Y/Z/R/T
  • 2-ступенчатая электромагнитная конденсорная линза, 1-ступенчатый электромагнитный объектив
  • Вакуумная система: 1 Турбомолекулярный насос + 1 Форвакуумный насос
  • Авто старт, Авто фокус, Авто яркость/контраст
Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом
  • Разрешение: 3нм@З0кВ (SE) / 6нм@1кВ (BSE) HV, LV,
  • Увеличение: 6x - 300 000X
  • Размер образца: 175 мм, Ток пучка: 10 пА - 0. 1 мкА,
  • Ускоряющее напряжение: 0-30кВ
  • 5-осевой столик образца (Авто X/Y, Ручной Z/R/T)
  • Возможность апгрейда катода LaB6 (гексаборид лантана), рентгеновский детектор, EBSD, CL, WDS, напылительная установка.
  • Модификации EBL, STM, AFTM, режим нагрева, режим заморозки, режим растяжения, SEM+лазер.
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией с термополевым катодом Шоттки
  • Разрешение: 1,5нм@15кВ (SE) / 3нм@20кВ (BSE), Увеличение: 8x - 800 000X
  • Размер образца: 175 мм, Ток пучка: 10 пА - 0. 3 мкА, Ускоряющее напряжение: 0-30кВ
  • Стабильный и надежный высоковольтный блок ускорителя пучка обеспечивает превосходное качество изображения при низких ускоряющих напряжениях.
  • Непроводящие образцы можно исследовать без напыления на низком ускоряющем напряжении.
  • Простой и удобный интерфейс управления, все управление осуществляется с помощью мыши в компьютерной системе Windows (входит в комплект)
Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией с термополевым катодом Шоттки
  • Разрешение: 1нм@З0кВ (SE) / 3нм@1кВ (SE) / 2,5нм@30кВ (BSE),
  • Увеличение: 6x – 1 000 000X
  • Размер образца: 320 мм, Ток пучка: 10 пА - 0. 3 мкА,
  • Ускоряющее напряжение: 0-30кВ
  • 6x~1000000x с детекторами: SED+CCD, 5 полностью моторизованных осей.
  • Стабильный и надежный высоковольтный блок ускорителя пучка обеспечивает превосходное качество изображения при низких ускоряющих напряжениях.
  • Непроводящие образцы можно исследовать без напыления на низком ускоряющем напряжении.
Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом с высоким разрешением
  • Разрешение: 3нм@З0кВ (SE),
  • Увеличение: 10x – 1 000 000X
  • Размер образца: 100 мм,
  • Ускоряющее напряжение: 0,2-30кВ
  • Минимальное разрешение: 3 нм;
  • Максимальный размер образца: 260 X 240, мм
  • 5-осевой моторизованный рабочий столик образца
Настольный сканирующий электронный микроскоп
  • Разрешение: 8нм@15кВ (SE),
  • Увеличение: 20x – 150 000X
  • Размер образца: 50 мм,
  • Ускоряющее напряжение: 15кВ
  • Минимальное разрешение: < 8 нм;
  • Диапазон перемещения предметного столика образца: 30 мм X 30 мм;
  • Максимальный размер образца: 50 X 35 мм
Напольный сканирующий электронный микроскоп
  • Доступное разрешение 7 нм, 5 нм при 30 кэВ
  • Увеличение 150000-кратное (макс.)
Растровый электронный микроскоп
  • Разрешение: 3,5 нм при 30 кэВ; 5 нм в режиме обратно рассеянных электронов
Сканирующий Электронный Микроскоп (SEM)
  • Увеличение: x15 – x300,000
  • Разрешение: 3.0 нм (30КВ, SE изображение)

Наш менеджер готов ознакомить вас с ВЫГОДНОЙ ЦЕНОЙ

Запрос цены